A.直流等離子體
B.微波等離子體
C.電感耦合等離子體
D.電中性等離子體
E.交流等離子體
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你可能感興趣的試題
A.堵塞物
B.彎折
C.壓扁
D.亮光
E.試樣
A.檢出限
B.精密度
C.分析標(biāo)準(zhǔn)曲線的線形范圍
D.多元素測(cè)定能力
E.分析速度
A.儀器操作參數(shù)
B.進(jìn)樣方法
C.元素性質(zhì)
D.酸度
E.操作水平
A.有較強(qiáng)的炭譜
B.多元素檢出能力不如常規(guī)Ar-ICP
C.費(fèi)用比ICP-N2更低
D.干擾小
E.背景低
A.光譜干擾比ICP-MS大
B.可在大氣壓下連續(xù)工作
C.不比ICP-MS具有更好的檢出線
D.可測(cè)痕量元素
E.測(cè)量元素種類多
最新試題
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測(cè)元素的含量范圍。
火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。
ICP矩焰形成通稱點(diǎn)火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點(diǎn)燃，形成高溫的火焰。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類，并按照年月日依次保存，不能重復(fù)命名，便于上傳時(shí)和以后查找。
原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭，但應(yīng)斷電，防止短路。
金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。
原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鎢鐵中碳硫含量，氧氣源發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)重新對(duì)工作曲線進(jìn)行校正。