單項(xiàng)選擇題渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）
A.電流
B.磁場(chǎng)
C.滿流
D.電磁
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1.單項(xiàng)選擇題缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的（）
A.絕對(duì)大小
B.相等大小
C.相對(duì)大小
D.相同大小
2.單項(xiàng)選擇題直接射向缺陷的波就是（）
A.直通波
B.直射波
C.反射波
D.折射波
3.單項(xiàng)選擇題當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的（）
A.全部
B.兩倍
C.三倍
D.一半
4.單項(xiàng)選擇題在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）
A.反比
B.倍數(shù)
C.正比
D.無(wú)關(guān)
5.單項(xiàng)選擇題在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
A.缺陷
B.損壞
C.缺損
D.殘缺
最新試題
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接射向缺陷的波就是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場(chǎng)的傳感器，它是構(gòu)成（）系統(tǒng)的重要組成部分，對(duì)于檢測(cè)結(jié)果的好壞起著重要的作用。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題