底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。