多項(xiàng)選擇題可用于直讀光譜分析樣品研磨的設(shè)備有()

A.砂輪機(jī)
B.砂紙盤
C.砂帶機(jī)
D.銑床
E.破碎機(jī)


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1.多項(xiàng)選擇題直讀光譜分析中()會(huì)引起曲線漂移。

A.溫濕度變化
B.更換氬氣
C.儀器震動(dòng)
D.透鏡污染
E.電源波動(dòng)

3.多項(xiàng)選擇題ICP-AES分析中,如果基體比較復(fù)雜,使用標(biāo)準(zhǔn)加入法應(yīng)滿足的條件有()

A.測(cè)定范圍內(nèi)的工作曲線必須是直線
B.使用無干擾的分析線
C.要有效地扣除光譜背景
D.要有效地扣除空白值
E.必須加內(nèi)標(biāo)

4.多項(xiàng)選擇題ICP-AES分析中()方法可以有利于抑制和消除電離干擾。

A.采用光譜校正法
B.采用適當(dāng)?shù)挠^察高度和較高的高頻功率
C.采用較低的載氣壓力或流量
D.加入堿金屬來抵消影響
E.基體匹配

5.多項(xiàng)選擇題在ICP-AES分析作業(yè)中,物理干擾一定程度上存在,造成物理干擾的原因有()

A.溶液的粘度、溶液的比重
B.溶液的表面張力
C.酸的濃度和種類
D.待測(cè)元素的種類
E.譜線復(fù)雜

最新試題

儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類,并按照年月日依次保存,不能重復(fù)命名,便于上傳時(shí)和以后查找。

題型:判斷題

X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑,氧化劑只能以固體形式加入。

題型:判斷題

原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。

題型:判斷題

鋼鐵中碳分析,如果采用常規(guī)化學(xué)方法,需要隨同試料做空白試驗(yàn)。

題型:判斷題

原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。

題型:判斷題

X射線熒光光譜分析中,含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果,導(dǎo)致分析延時(shí)。

題型:判斷題

原子吸收光度法,WM-2H型無油氣體壓縮機(jī),表壓不在“0”為時(shí),不得開機(jī)。

題型:判斷題

原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測(cè)元素的含量范圍。

題型:判斷題

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

題型:判斷題

金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素,通常為基體元素。

題型:判斷題