A.白盒測(cè)試
B.黑盒測(cè)試
C.動(dòng)態(tài)測(cè)試
D.靜態(tài)測(cè)試
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)中關(guān)鍵的資源
B.讀寫頁面的使用情況
C.超出共享內(nèi)存緩沖區(qū)的操作數(shù)
D.上一輪詢問作業(yè)等待緩沖區(qū)的時(shí)間
A.重視每一個(gè)測(cè)試結(jié)果,對(duì)每一個(gè)測(cè)試結(jié)果作全面檢查
B.測(cè)試用例設(shè)計(jì)時(shí),應(yīng)當(dāng)包含合理的輸入條件和不合理的輸入條件
C.對(duì)發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤較多的程序段,應(yīng)進(jìn)行更深入的測(cè)試
D.嚴(yán)格執(zhí)行測(cè)試計(jì)劃,排除測(cè)試的隨意性
A.白盒測(cè)試
B.黑盒測(cè)試
C.安全測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試
A.初始化和終止錯(cuò)誤
B.界面錯(cuò)誤
C.功能錯(cuò)誤或遺漏
D.性能錯(cuò)誤
A.保證一個(gè)模塊中的所有獨(dú)立路徑至少被使用一次
B.對(duì)所有邏輯值均需測(cè)試true和false
C.在上下邊界及可操作范圍內(nèi)運(yùn)行所有循環(huán)
D.檢查內(nèi)部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),以確保其有效性
最新試題
下面哪項(xiàng)不屬于系統(tǒng)測(cè)試的主要目標(biāo)()
增殖式集成方式不包括()
以下哪項(xiàng)不屬于性能測(cè)試的應(yīng)用領(lǐng)域()
以下哪種集成測(cè)試從程序模塊結(jié)構(gòu)中最底層的模塊開始組裝和測(cè)試()
在白盒測(cè)試法中,應(yīng)保證一個(gè)模塊中所有獨(dú)立路徑至少被測(cè)試幾次()
以下不屬于黑盒測(cè)試發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤類型的是()
白盒測(cè)試的目的不包括()
以下不屬于判定表建立步驟的是()
編寫功能需求規(guī)格說明時(shí)不需要描述的是()
以下哪項(xiàng)測(cè)試是將所有單元組裝成模塊,測(cè)試各部分工作是否達(dá)到相應(yīng)技術(shù)指標(biāo)級(jí)的活動(dòng)()