判斷題單晶片探頭接觸法探傷中,與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出,這是因為盲區(qū)。
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最新試題
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
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題型:單項選擇題