單項選擇題被檢工件晶粒粗大,通常會引起()。

A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數減少
D.以上的全部或部分現(xiàn)象發(fā)生


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2.單項選擇題檢測時采用較高的檢測頻率,可有利于()。

A. 發(fā)現(xiàn)較小的缺陷
B. 區(qū)分開相鄰的缺陷
C. 改善聲束指向性
D. 以上都對

3.單項選擇題探頭的晶片尺寸增加對探頭的()有不利影響。

A. 聲束的指向性
B. 近場區(qū)長度
C. 遠距離缺陷檢出能力
D. 以上都是

4.單項選擇題超聲檢測時對于定量要求高的情況應選則()的儀器。

A. 水平線性誤差小
B. 垂直線性好、衰減器精度高
C.盲區(qū)小、分辨率好
D. 靈敏度余量高、信噪比高、功率大

5.單項選擇題主要用來發(fā)現(xiàn)與探測面平行的片狀缺陷的雙探頭法是()。

A. 交叉式
B. V型串列式
C. K型串列式
D. 串列式

最新試題

在厚度T=200mm的試塊上校準縱波掃描速度,若B2對準50 , B4對準100 。計算這時的掃描速度為多少?此時B1、B3分別對準的水平刻度值為多少?

題型:問答題

用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準400mm處檢測靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少?   (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數相同,耦合差為5dB)底波調節(jié)檢測靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?

題型:問答題

用2.5P14Z探頭檢檢測厚度T=150mm鋼板(CL= 5900m/s),如何用鋼板完好部位底波校準檢測靈敏度?  

題型:問答題

用2.5P14Z探頭檢測鍛件,利用工件100mm大平底,如何校準同工件,厚度180m處 的檢測靈敏度?

題型:問答題

用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測厚為200mm的餅形鍛件,已知底波B1=80%,B2=35%,若不計底面反射損失,求該鍛件的材質衰減系數為多少? 

題型:問答題

用5P10×12K2探頭檢測板厚T = 24mm 鋼板對接焊縫,掃描線按深度2:1調節(jié),檢測 時在水平刻度τf= 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,計算此缺陷深度和水平距離?

題型:問答題

用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測外徑D=1000mm ,內孔d = 600mm的鍛件,CL=5900m/s 。如何利用內孔回波校準200/Ф2靈敏度?

題型:問答題

用2.5P14Z探頭檢測某鍛件,發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB,另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2,檢測總面積為0.5米×0.5米,同時發(fā)現(xiàn)一單個缺陷,當量為Φ4+10dB,試根據標準評定此鍛件等級。

題型:問答題

用2.5P20Z直探頭檢測厚400mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,檢測靈敏度校準(400/Ф2)后進行檢測,發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷,缺陷波幅比基準波幅高30dB,求此缺陷當量?

題型:問答題

用5P10×12K2.5探頭,檢測板厚T = 20 mm 的鋼對接焊接接頭,掃描時基線按水平1:1調節(jié),檢測時,水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個,試分別求這兩個缺陷的深度?

題型:問答題