A. 提高
B. 不變
C. 降低
D. 相同變化
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A. 檢測(cè)系統(tǒng)
B. 時(shí)基線性
C. 垂直線性
D. 分辨率
A. 近場(chǎng)區(qū)
B. 聲束擴(kuò)散角以外的區(qū)域
C. 從檢測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離
D. 以上都不是
A. CSK-ⅠA
B. CSK-ⅢA
C. CBⅡ
D. CS-2
A.取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器
B.取決于同步脈沖發(fā)生器
C.取決于換能器機(jī)械阻尼
D.隨分辨力提高而提高
A. 水平線性、垂直線性、衰減器精度
B. 靈敏度余量、盲區(qū)與始脈沖寬度、分辨率
C. 動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、檢測(cè)深度
D. 垂直線性、水平線性、重復(fù)頻率
最新試題
用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度？
用K1探頭探測(cè)外徑為600mm焊縫筒體，計(jì)算能探測(cè)的壁厚最大厚度是多少？
用5P10×12K2探頭檢測(cè)板厚T = 24mm 鋼板對(duì)接焊縫，掃描線按深度2：1調(diào)節(jié)，檢測(cè) 時(shí)在水平刻度τf= 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，計(jì)算此缺陷深度和水平距離？
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 如何用試塊上的深150mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測(cè)靈敏度（400/Ф2）？
用入射角a = 500的斜探頭檢測(cè)板厚T = 22mm的鋼焊縫，已知探頭楔塊CL= 2730m/s ，鋼中 Cs= 3230m/s ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)掃描速度，檢測(cè)時(shí)在水平刻度τf = 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷，求此缺陷的位置。
用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測(cè)外徑D=1000mm ，內(nèi)孔d = 600mm的鍛件，CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度？
用CSK－IA 試塊測(cè)定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測(cè)得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少？
用5P10×12K2.5探頭，檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭，掃描時(shí)基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測(cè)時(shí)，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè)，試分別求這兩個(gè)缺陷的深度？
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進(jìn)行檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？