A. 缺陷性質(zhì)判斷
B. 缺陷大小判斷
C. 缺陷的定位
D. 以上都是
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A. 直探頭的的遠(yuǎn)場分辨力
B. 斜探頭的K值
C. 斜探頭的入射點(diǎn)
D. 斜探頭的聲束偏斜角
A. CSⅠ 、 CBⅠ
B. CSK－ⅢA 、CSK－ⅠA
C. CSⅢ 、CSK－ⅠA
D. RB－Ⅰ 、CSⅡ
A.工作頻率
B.晶片尺寸
C.探測深度
D.近場長度
A. 探頭的工作頻率為2MHz
B. 探頭的K值為2
C. 探頭的種類為2
D. 以上都不是
A. 重復(fù)頻率
B. 工作頻率
C. 觸發(fā)脈沖頻率
D. 以上都不是
最新試題
用入射角a = 500的斜探頭檢測板厚T = 22mm的鋼焊縫，已知探頭楔塊CL= 2730m/s ，鋼中 Cs= 3230m/s ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)掃描速度，檢測時(shí)在水平刻度τf = 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷，求此缺陷的位置。
用單斜探頭直接接觸法檢測φ400×48mm無縫鋼管，求能夠檢測到管內(nèi)壁探頭的最大K值？
檢測板厚T=20mm的鋼板對接焊接接頭，上焊縫寬34mm，下焊縫寬25mm，選用K2探頭，前沿距離L0=16mm，用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面？是否能滿足要求？
用斜探頭檢測板厚T = 20mm ，上、下焊縫寬度為30mm的對接接頭，探頭前沿長度為 20mm ，為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面，試確定用一、二次波檢測時(shí)探頭的K值？
用2.5P20Z直探頭檢測厚500mm的工件，CL=5900m/s ， 檢測中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷， 其波高比底波低12dB ， 求此缺陷的當(dāng)量大?。?/p>
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測厚為200mm的餅形鍛件，已知底波B1=80%，B2=35%，若不計(jì)底面反射損失，求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少？
用2.5P20Z直探頭檢測厚350mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波校準(zhǔn)檢測靈敏度（350/ф2）？
用K2斜探頭檢測T = 28mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時(shí)， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)）
用2.5P20Z探頭檢測400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度？
用2.5P20Z直探頭檢測厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進(jìn)行檢測，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？