A. 波的繞射
B. 波的干涉
C. 波的衰減
D. 波的傳播
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.散射衰減
B.擴(kuò)散衰減
C.吸收衰減
D.材質(zhì)衰減
A.有機(jī)玻璃楔塊中
B.從晶片中
C.有機(jī)玻璃與耦合界面上
D.耦合層與鋼板界面上
A.在工件中得到純橫波
B.得到良好的聲束指向性
C.實(shí)現(xiàn)聲束聚焦
D.實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換
A.介質(zhì)的聲阻抗
B.介質(zhì)的衰減系數(shù)
C.介質(zhì)的聲速
D.反射的波型
A.反射波波型
B.入射角度
C.界面兩側(cè)的聲阻抗
D.入射波聲速
最新試題
用2.5P14Z探頭檢測(cè)鍛件,利用工件100mm大平底,如何校準(zhǔn)同工件,厚度180m處 的檢測(cè)靈敏度?
對(duì)厚度60mm的鋼板進(jìn)行水浸檢測(cè),已知水層厚度H = 30mm ,計(jì)算這是幾次重合法?
用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無(wú)縫鋼管,求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值?
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度,若B2對(duì)準(zhǔn)50 , B4對(duì)準(zhǔn)100 。計(jì)算這時(shí)的掃描速度為多少?此時(shí)B1、B3分別對(duì)準(zhǔn)的水平刻度值為多少?
檢測(cè)板厚T = 24mm 的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm , 下焊縫寬26mm ,選用K2 探頭,前沿距離l0 = 16mm ,用一、二次波能掃查到整個(gè)焊縫截面?
用斜探頭檢測(cè)板厚T = 20mm ,上、下焊縫寬度為30mm的對(duì)接接頭,探頭前沿長(zhǎng)度為 20mm ,為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面,試確定用一、二次波檢測(cè)時(shí)探頭的K值?
面積為1×1m2的鋼板超聲檢測(cè),發(fā)現(xiàn)有以下缺陷:指示長(zhǎng)度為90mm面積80cm2的缺陷4個(gè), 指示長(zhǎng)度為75mm,面積50cm2的缺陷3個(gè);指示長(zhǎng)度為50mm 面積12cm2的缺陷5個(gè);各缺陷間距均大于100mm,試根JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)判別鋼板等級(jí)。
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測(cè)厚為200mm的餅形鍛件,已知底波B1=80%,B2=35%,若不計(jì)底面反射損失,求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少?
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ,儀器按深度1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB , 試塊與工件耦合差為5dB ,(1) 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6-9dB靈敏度?(2) 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,其波高達(dá)面板曲線時(shí), 衰減器讀數(shù)為28dB,求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域?(按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn))