多項(xiàng)選擇題利用曝光因子可以對(duì)()修正計(jì)算。
A.膠片類型改變
B.黑度改變
C.焦距
D.曝光時(shí)間
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1.多項(xiàng)選擇題局部無(wú)損檢測(cè)的產(chǎn)品,在編寫(xiě)工藝卡時(shí)按GB150要求必須進(jìn)行100%檢測(cè)的部位是()。
A.1.5倍開(kāi)孔直徑圓所包容的接頭
B.先拼板后成形的封頭
C.支座覆蓋的對(duì)接接頭
D.補(bǔ)強(qiáng)圈覆蓋的對(duì)接接頭
2.多項(xiàng)選擇題磁粉檢測(cè)試件時(shí),試件要滿足()的條件,經(jīng)合同雙方同意,可以檢測(cè)。
A.打磨后表面粗糙度小于等于25μm
B.打磨后表面粗糙度大于等于25μm
C.有涂層厚度均勻不超過(guò)0.05mm
D.有涂層厚度均勻超過(guò)0.05mm
3.多項(xiàng)選擇題端角反射不會(huì)出現(xiàn)在()中。
A.橫波檢測(cè)
B.縱波檢測(cè)
C.表面波檢測(cè)
D.板波檢測(cè)
4.多項(xiàng)選擇題用于熒光磁粉檢測(cè)的紫外線包括()。
A.短波紫外線
B.中波紫外線
C.黑光
D.長(zhǎng)波紫外線
5.多項(xiàng)選擇題下列屬于閉路磁化的有()。
A.電磁軛整體磁化
B.交叉磁軛法
C.電磁軛局部磁化
D.永久磁鐵局部磁化
最新試題
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
題型:多項(xiàng)選擇題
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
題型:多項(xiàng)選擇題
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
題型:多項(xiàng)選擇題
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
與一次射線相比,散射線的()。
題型:多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題