原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。

原子吸收光譜法測(cè)定被測(cè)元素，為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳，必須將樣品編號(hào)輸完整。

直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電是不好的。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

在任何元素的熒光光譜中，共振熒光譜線是最靈敏的譜線。

直讀光譜儀使用一段時(shí)間后需要清理廢氣過濾器，廢氣過濾器需放置一段時(shí)間后才能打開，以防自燃。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。

X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。