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A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA
B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4
C、CS2、CS3
D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20－2

A、對比試塊與被檢件或材料化學成份相似
B、試塊的外形尺寸能代表被檢工件的特征
C、對比試塊的厚度與被檢工件厚度相對應，涉及到不同工件厚度對接接頭檢測，試塊厚度選擇應由其較大工件厚度確定
D、對比試塊用于儀器探頭性能校準和檢測校準

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