A.雙壁單影透照像質(zhì)計放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時,應(yīng)在像質(zhì)計上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測報告中注明
C.單壁透照時允許像質(zhì)計放置在膠片側(cè),但必須進行對比試驗
D.當(dāng)一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個置像質(zhì)計
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A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時,總的曝光時間應(yīng)不小于輸送源所需時間的10倍
C.X射線照相,當(dāng)焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時,應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>
A.電源電壓下降超過10%時,黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動超過10%時,對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴(yán)重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴(yán)重影響黑光燈壽命
A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測用試塊可用于著色滲透檢測
A.滲透檢測質(zhì)量分級考慮到了缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級既限定了單個缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線性缺陷顯示
D.評定框內(nèi)同時存在線性缺陷和圓形缺陷時,應(yīng)進行綜合評級
A.干式顯像劑應(yīng)對其比重進行經(jīng)常校驗
B.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查粉末凝聚
C.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查殘留熒光
D.干式顯像劑對工件無腐蝕
最新試題
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
不同材料的相對吸收系數(shù)()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
使用變型波檢測的一個優(yōu)點是()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
調(diào)節(jié)掃描速度時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。