A.圓形缺陷評(píng)定區(qū)為一個(gè)與焊縫平行的矩形
B.在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的條件下,各級(jí)別的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)可放寬1~2點(diǎn)
C.當(dāng)對(duì)接焊接接頭存在深孔缺陷時(shí),其質(zhì)量級(jí)別應(yīng)評(píng)為Ⅳ級(jí)
D.質(zhì)量等級(jí)為Ⅰ級(jí)和Ⅱ級(jí)對(duì)接焊接接頭,不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于10個(gè),超過(guò)時(shí)對(duì)接焊接接頭質(zhì)量等級(jí)應(yīng)降低一級(jí)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.透照厚度
B.焦距
C.黑度
D.顯影時(shí)間
A.是否有危險(xiǎn)性缺陷特征
B.結(jié)合工藝特征分析
C.輔以其他檢測(cè)方法綜合判定
D.觀察動(dòng)態(tài)波形
A.在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域進(jìn)行
B.檢測(cè)面與底面平行
C.選擇表面粗糙的部位
D.取三處測(cè)定的平均值
A.機(jī)械品質(zhì)因子
B.發(fā)射強(qiáng)度
C.探頭頻率
D.機(jī)電耦合系數(shù)
A.鐵素體加奧氏體
B.鐵素體加萊氏體
C.鐵素體加珠光體
D.珠光體加奧氏體
最新試題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號(hào)波,需要仔細(xì)判別。
影響較大的散射線通常來(lái)自()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()