X射線(xiàn)熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑，氧化劑只能以固體形式加入。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

ICP矩焰形成通稱(chēng)點(diǎn)火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點(diǎn)燃，形成高溫的火焰。

X射線(xiàn)熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí)，可以使用純氧化物配比建立工作曲線(xiàn)。

火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。

原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭，但應(yīng)斷電，防止短路。

高頻感應(yīng)紅外線(xiàn)吸收法測(cè)定鐵合金中碳硫含量，批量分析時(shí)應(yīng)每測(cè)定一定數(shù)量樣品，插做一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品，檢查儀器的線(xiàn)性是否漂移。

金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。