A.4個
B.8個
C.12個
D.16個
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A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs,樣本數(shù)量為2000個
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs,樣本數(shù)量為1000個
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs,樣本數(shù)量為800個
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs,樣本數(shù)量為500個
A.信號非常弱或探頭距離記錄系統(tǒng)非常遠(yuǎn)時
B.頻率非常高時
C.工件厚度非常大時
D.粗晶材料檢測時
A.0到255
B.0到1023
C.0到4095
D.0到8192
A.5MHz的高通濾波器和20MHz的低通濾波器
B.5MHz的低通濾波器和20MHz的高通濾波器
C.3MHz的高通濾波器和15MHz的低通濾波器
D.3MHz的低通濾波器和15MHzr的高通濾波器
A.超聲信號中所有大于5M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
B.超聲信號中所有大于10M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
C.超聲信號中所有大于20M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
D.不可能發(fā)生混疊
最新試題
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>