靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。