A.性能測(cè)試
B.功能測(cè)試
C.黑盒測(cè)試
D.白盒測(cè)試
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.能力驗(yàn)證
B.能力規(guī)劃
C.能力設(shè)計(jì)
D.缺陷修復(fù)
A.應(yīng)測(cè)試最低配置下的性能
B.應(yīng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)配置下的性能
C.需記錄多用戶并發(fā)工作的情況
D.需測(cè)試人員拿著表去記錄相關(guān)時(shí)間
A.盡量對(duì)程序的內(nèi)、外部特性都進(jìn)行測(cè)試
B.盡量對(duì)所有的功能進(jìn)行測(cè)試
C.盡量對(duì)所有的路徑進(jìn)行檢測(cè)
D.盡量發(fā)現(xiàn)更多的程序錯(cuò)誤
A.程序控制流圖
B.環(huán)境復(fù)雜性圖
C.因果圖
D.圖形矩陣
A.描述程序控制流
B.程序邏輯復(fù)雜性提供度量
C.導(dǎo)出程序的基本路徑集
D.確保路徑集中的每一條路徑被執(zhí)行
最新試題
對(duì)于軟件開發(fā)者而言軟件測(cè)試是為了（）
在白盒測(cè)試法中，應(yīng)保證一個(gè)模塊中所有獨(dú)立路徑至少被測(cè)試幾次（）
以下哪種工具可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)地確定一個(gè)基本路徑集（）
以下不屬于磁盤監(jiān)控任務(wù)的是（）
以下不屬于判定表建立步驟的是（）
對(duì)于用戶而言軟件測(cè)試是為了（）
增殖式集成方式不包括（）
以下屬于白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試共同點(diǎn)的是（）
以下哪種集成測(cè)試從程序模塊結(jié)構(gòu)中最底層的模塊開始組裝和測(cè)試（）
下面關(guān)于判定表規(guī)則及規(guī)則合并描述錯(cuò)誤的是（）