IBM公司的統(tǒng)計(jì)資料表明，使用靜態(tài)測(cè)試的方法最高可以查出在測(cè)試中查出的全部軟件錯(cuò)誤的（）。

在軟件測(cè)試中，下面說法中錯(cuò)誤的是（）。

在基本路徑測(cè)試中，獨(dú)立路徑是指包括一組以前沒有處理過的（）的一條路徑。從程序圖來看，一條獨(dú)立路徑是至少包含有一條（）的邊的路徑。

軟件的組裝測(cè)試最好是由（）承擔(dān)，以提高組裝測(cè)試的效果。

在黑盒測(cè)試中，著重檢查輸入條件的組合的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法是（）。

軟件測(cè)試計(jì)劃是一些文檔，它們描述了（）。

錯(cuò)誤的群集現(xiàn)象是指模塊錯(cuò)誤發(fā)現(xiàn)率與模塊的殘留錯(cuò)誤數(shù)成（）關(guān)系。

軟件測(cè)試階段的基本任務(wù)應(yīng)當(dāng)是根據(jù)軟件開發(fā)各階段的（）和程序的（），精心設(shè)計(jì)一批“高產(chǎn)”的測(cè)試用例，利用這些測(cè)試用例（），找出軟件中潛藏的各種錯(cuò)誤和缺陷。

黑盒測(cè)試依據(jù)（），檢查程序是否滿足（）。因此，黑盒測(cè)試由稱為功能測(cè)試或（）測(cè)試。

在單元測(cè)試中，樁模塊用來代替被測(cè)模塊的（）。其作用是（）。