單項(xiàng)選擇題磁粉探傷-橡膠鑄型法記錄磁痕的優(yōu)點(diǎn)是()。
A.檢驗(yàn)速度快,成本低
B.缺陷磁痕可永久保留
C.與連續(xù)法配用,靈敏度高
D.能跟蹤疲勞裂紋的產(chǎn)生和發(fā)展
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1.單項(xiàng)選擇題無(wú)損檢測(cè)方法的選擇和檢測(cè)比例通常由()部門(mén)在圖樣上予以規(guī)定。
A.設(shè)計(jì)
B.質(zhì)量
C.監(jiān)督
D.安全
2.單項(xiàng)選擇題底片曝光后顯影的目的是()。
A.使曝光的金屬銀轉(zhuǎn)變?yōu)殇寤y
B.去除未曝光的溴化銀
C.使曝光的溴化銀轉(zhuǎn)變?yōu)榻饘巽y
D.去除已曝光的溴化銀
3.單項(xiàng)選擇題專(zhuān)用探傷室的防護(hù)一般采用()防護(hù)。
A.距離
B.屏蔽
C.時(shí)間
D.減少接觸射線(xiàn)
4.單項(xiàng)選擇題漏磁檢測(cè)是用磁傳感器檢測(cè)缺陷,說(shuō)法正確的是()。
A.傳感器可以緊貼被檢測(cè)面
B.不適合檢測(cè)形狀復(fù)雜的工件
C.提高了檢測(cè)靈敏度
D.不存在提離值
5.單項(xiàng)選擇題對(duì)接焊縫試件做彎曲試樣時(shí),接頭厚度大于10mm時(shí)可用4個(gè)橫向側(cè)彎試樣代替()試樣。
A.1個(gè)面彎和3個(gè)背彎
B.3個(gè)面彎和1個(gè)背彎
C.2個(gè)面彎和2個(gè)背彎
D.4個(gè)縱向側(cè)彎
最新試題
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
題型:多項(xiàng)選擇題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
題型:多項(xiàng)選擇題
與一次射線(xiàn)相比,散射線(xiàn)的()。
題型:多項(xiàng)選擇題
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
題型:多項(xiàng)選擇題
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免()。
題型:多項(xiàng)選擇題
冷裂紋常見(jiàn)的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
題型:多項(xiàng)選擇題