單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺(tái)階孔,其目的是方便用于()
A.測(cè)定斜探頭折射角的正切(K值)
B.測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍
C.測(cè)定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
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1.單項(xiàng)選擇題用一臺(tái)時(shí)基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測(cè)無切槽的IIW2試塊,斜探頭聲束朝向R25方向,若令第一次回波位于滿刻度為100的水平刻度25處,則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的()
A.50
B.75
C.100
D.以上都不對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題平底孔最常用作探測(cè)()的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件
3.單項(xiàng)選擇題長橫孔最常用作探測(cè)()的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛件
4.單項(xiàng)選擇題柱孔最常用作()檢測(cè)的參考反射體。
A.蘭姆波
B.縱波
C.橫波
D.除B以外
5.單項(xiàng)選擇題在超聲波檢測(cè)中,最適宜以刻槽作為參考反射體探測(cè)()
A.軋制板材中的分層
B.管材縱向裂紋
C.焊縫中的氣孔
D.鍛件的內(nèi)部夾雜物
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型:單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型:單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
題型:單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:單項(xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項(xiàng)選擇題