單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺(tái)階孔,其目的是方便用于()

A.測(cè)定斜探頭折射角的正切(K值)
B.測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍
C.測(cè)定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是


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