A.二次反射的橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時(shí)反射率最高
C.入射角為45°時(shí)反射率高
D.入射角為60°時(shí)反射率最低
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A.縱波折射角大于入射角
B.縱、橫波折射角均小于入射角
C.橫波折射角小于入射角
D.以上全不對(duì)
A.縱波折射角等于90°時(shí)的橫波入射角
B.橫波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角
C.縱波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角
D.縱波入射角等于90°時(shí)的折射角
A.折射縱波等于90°時(shí)的橫波入射角
B.折射橫波等于90°時(shí)的縱波入射角
C.折射縱波等于90°時(shí)的縱波入射角
D.入射縱波接近90°時(shí)的折射角
A.反射縱波
B.反射橫波
C.折射縱波和折射橫波
D.以上都有
A.入射波波型
B.入射角度
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
D.以上都是
最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()是影響缺陷定量的因素。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
單探頭法容易檢出()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。