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A.W模型
B.漠布模型
C.L模型
D.G模型
A.集成測(cè)試
B.確認(rèn)測(cè)試
C.用戶測(cè)試
D.灰盒測(cè)試
A.發(fā)現(xiàn)軟件錯(cuò)誤
B.說(shuō)明程序正確
C.證明程序沒(méi)有錯(cuò)誤
D.設(shè)計(jì)并運(yùn)行測(cè)試用例
A.集成測(cè)試
B.驗(yàn)收測(cè)試
C.單元測(cè)試
D.確認(rèn)測(cè)試
A.自頂向下增量測(cè)試方法
B.一次性集成測(cè)試
C.多次性測(cè)試
D.維護(hù)
最新試題
H模型沒(méi)能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。
敏捷開(kāi)發(fā)模型不適用于大型開(kāi)發(fā)項(xiàng)目。
軟件測(cè)試應(yīng)該盡早執(zhí)行，自動(dòng)化測(cè)試也最好在項(xiàng)目初期就開(kāi)始自動(dòng)化測(cè)試。
以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。
下面對(duì)于開(kāi)發(fā)過(guò)程描述正確的是（）
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問(wèn)題。說(shuō)的是以下哪一種評(píng)審方法？（）
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。