單項(xiàng)選擇題根據(jù)X射線膠片特性曲線的斜率可以知道膠片的()特性。
A、靈敏度
B、曝光量
C、黑度
D、對(duì)比度
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1.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線的橫坐標(biāo)表示()。
A、底片黑度
B、曝光量
C、曝光量的對(duì)數(shù)
D、底片黑度的對(duì)數(shù)
2.單項(xiàng)選擇題下面放射源的穿透能力最強(qiáng)()。
A、60Co
B、220kVpX射線
C、15MeVX射線
D、192Ir
3.單項(xiàng)選擇題γ射線比普通X射線的波長(zhǎng)更短,因此γ射線對(duì)物質(zhì)的穿透能力一般比普通X射線()。
A、相同
B、弱
C、強(qiáng)
D、以上都可能
4.單項(xiàng)選擇題()可以提高X射線的穿透能力。
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
5.單項(xiàng)選擇題X射線的穿透能力主要取決于()。
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
最新試題
掃查方式一般視試件的()而定。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場(chǎng)的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對(duì)于檢測(cè)結(jié)果的好壞起著重要的作用。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接射向缺陷的波就是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題