A.粒子的濃度
B.雜散光
C.化學(xué)干擾
D.光譜線干擾
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A.直線下部向上彎曲
B.直線上部向下彎曲
C.直線下部向下彎曲
D.直線上部向上彎曲
A.向上彎曲
B.向下彎曲
C.變成折線
D.變成波浪線
A.暗箱
B.感光板
C.硒光電池
D.光電倍增管
A.激發(fā)溫度高
B.蒸發(fā)溫度高
C.穩(wěn)定性好
D.激發(fā)的原子線多
A.極譜儀
B.折光儀
C.原子發(fā)射光譜儀
D.紅外光譜儀
最新試題
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
裝有乙炔氣體的鋼瓶必須放在避光的室內(nèi)，不能放在膠皮的上面。
X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。
氧氮分析儀器長(zhǎng)期運(yùn)行和頻繁使用，儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損，因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。
原子吸收光譜法測(cè)定被測(cè)元素，為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳，必須將樣品編號(hào)輸完整。
原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開(kāi)啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。
儀器結(jié)果保存時(shí)應(yīng)該分類，并按照年月日依次保存，不能重復(fù)命名，便于上傳時(shí)和以后查找。
原子吸收光度法，WM-2H型無(wú)油氣體壓縮機(jī)，表壓不在“0”為時(shí)，不得開(kāi)機(jī)。