A.譜線干擾
B.背景干擾
C.雜散干擾
D.化學(xué)干擾
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A.能量使氣態(tài)原子外層電子產(chǎn)生發(fā)射光譜
B.輻射能使氣態(tài)基態(tài)原子外層電子產(chǎn)生躍遷
C.能量與氣態(tài)原子外層電子相互作用
D.輻射能使原子內(nèi)層電子產(chǎn)生躍遷
A.單色器
B.原子化器
C.光源
D.檢測(cè)器
A.火焰
B.交流電弧
C.激光微探針
D.輝光放電
A.980cm-1
B.2.0×104cm-1
C.5.0cm-1
D.0.1cm-1
最新試題
X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后,可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。
X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑,氧化劑只能以固體形式加入。
金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素,通常為基體元素。
紅外碳硫儀中的紅外檢測(cè)池具有單一性,各紅外池間不可互相代用。
原子吸收法測(cè)量鉀鈉,應(yīng)使用聚四氟乙烯材料的塑料瓶,避免玻璃介質(zhì)對(duì)測(cè)定鉀鈉的干擾。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鐵合金中碳硫含量,批量分析時(shí)應(yīng)每測(cè)定一定數(shù)量樣品,插做一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品,檢查儀器的線性是否漂移。
原子吸收光度法,WM-2H型無(wú)油氣體壓縮機(jī),表壓不在“0”為時(shí),不得開(kāi)機(jī)。
火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。
碳硫分析儀器短期或長(zhǎng)期不使用時(shí),應(yīng)間隔一段時(shí)間,開(kāi)一次機(jī)。
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí),可以使用純氧化物配比建立工作曲線。