A.1.5
B.2.0
C.2.5
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A.α≤30°
B.α≤45°
C.α≤60°
A.0.15%
B.0.2%
C.0.3%
A.橢圓形、半球形、碟形、錐形、平蓋;
B.半球形、橢圓形、碟形、錐形、平蓋;
C.半球形、碟形、橢圓形、錐形、平蓋
A.正火
B.調(diào)質(zhì)
C.穩(wěn)定化處理
A.30mm
B.50mm
C.60mm
最新試題
用2.5MHz、Φ20直探頭對(duì)鍛件探傷,發(fā)現(xiàn)距探測(cè)面240mm處有一缺陷,其回波高度比150/Φ2試塊平底孔回波高6dB。求此缺陷的平底孔當(dāng)量。
用5P10×12K2.5探頭,檢驗(yàn)板厚T=20mm的鋼焊縫,掃描按水平1:調(diào)節(jié)。探傷時(shí)在水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè),試分別求這兩個(gè)缺陷的深度?
用斜探頭探測(cè)RB-2試塊上,深度d1=40mrn和d2=50mm的Φ30橫孔.分別測(cè)得簡(jiǎn)化水平距離1’1=45mm,1’2=105mm,試計(jì)算該探頭k值和前沿距離l0?
用K1探頭探測(cè)外徑Φ600mm的筒體,能探測(cè)的壁厚極限尺寸是多少?
用2.5MHz、Φl4直探頭探測(cè)厚度300mm鍛鋼件,技術(shù)條件規(guī)定不允許≥Φ2當(dāng)量缺陷存在,材料衰減系數(shù)為α=0.02dB/nun,利用工件底面如何調(diào)節(jié)探傷靈敏度?在此靈敏度下發(fā)現(xiàn)距探測(cè)面200mm處有一缺陷,其最高回波為22dB,問(wèn)此缺陷當(dāng)量?
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件(CL=5900m/s),材質(zhì)衰減系數(shù)α=0.01dB/mm。檢驗(yàn)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷,其波幅較底波低7dB。求此缺陷當(dāng)量多大?
用2.5P/14Z直探頭檢驗(yàn)外徑1100mm,壁厚200mm筒形鋼鍛件(CL=5900m/s)。(1)在外圓周作徑向探傷時(shí),如何用內(nèi)壁曲面回波調(diào)節(jié)探傷靈敏度(Φ=2mm)(2)在內(nèi)壁作徑向探傷時(shí),如何用外壁曲面回波凋節(jié)探傷靈敏度(Φ=2mm)?
用2.5P14Z直探頭檢驗(yàn)200mm厚鋼鍛件,底波調(diào)到屏高的80%,再將靈敏度提高14dB進(jìn)行探傷。探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷深150mm,波高為50%,求此缺陷當(dāng)量多大?(鋼的CL=5900m/s)。
使用雙晶直探頭探測(cè)40mm鋼板,已知有機(jī)玻璃延遲塊厚75mm,把二次波調(diào)在熒光屏第10格,問(wèn)界面波和一次底波在第幾格出現(xiàn)?
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測(cè)厚度300mm的鍛鋼件,要求≥Φ2當(dāng)量缺陷不漏檢。利用工件底面如何調(diào)節(jié)探測(cè)靈敏度,如在此靈敏度下探測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn)距探測(cè)面200mm處有一缺陷,其波高為15dB,求此缺陷的平底孔當(dāng)量。