精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時應(yīng)使用（）

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

利用偽距作空間交會來定位點位的方法稱為（）

路線定義（主點法）曲線左偏時，半徑輸入為（）值。

RTK測量的基本工作流程中，在至少（）個公共點上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點校正）。

全站儀觀測水平角，下列不符合全站儀主要技術(shù)指標(biāo)規(guī)定的是（）。

（）常采用獨立坐標(biāo)系統(tǒng)。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。

偽距測量缺點有時間不宜測準(zhǔn)和（）

深度基準(zhǔn)面的確定方法有理論深度基準(zhǔn)面、最低水位、（）、設(shè)計水位。