X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

ICP矩焰形成通稱點(diǎn)火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點(diǎn)燃，形成高溫的火焰。

火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。

氧氮分析儀中稀土氧化銅的作用是將一氧化碳氧化為二氧化碳。

金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。

X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。

原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測(cè)元素的含量范圍。