A.0.1~0.5
B.0.01~0.05
C.0.6~0.8
D.大于0.9
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你可能感興趣的試題
A.入射狹縫
B.色散元件
C.平面反射鏡
D.出射狹縫
A.陰極材料
B.填充氣體
C.燈電流
D..陽極材料
A.發(fā)射線輪廓小于吸收線輪廓
B.發(fā)射線輪廓大于吸收線輪廓
C.發(fā)射線輪廓小于吸收線輪廓且發(fā)射線的中心頻率與吸收線中心頻率重合
D.發(fā)射線的中心頻率小于吸收線中心頻率
A.提供試樣蒸發(fā)和激發(fā)所需要的能量
B.產(chǎn)生紫外光
C.發(fā)射待測元素的特征譜線
D.產(chǎn)生具有足夠濃度的散射光
A.原子
B.激發(fā)態(tài)原子
C.分子
D.基態(tài)原子
最新試題
原子熒光法做檢出限測試時(shí)應(yīng)對空白樣品連續(xù)測定7次。
鋼鐵中碳分析,如果采用常規(guī)化學(xué)方法,需要隨同試料做空白試驗(yàn)。
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測量爐渣時(shí),可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測元素的含量范圍。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。
火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。
X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑,氧化劑只能以固體形式加入。
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn),凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。