A、較高的比較器水平可以縮短總的分析時(shí)間。
B、低的比較器水平包括了更多的試樣氣體,因此用于結(jié)果計(jì)算的氮和氧也多。
C、比較器水平設(shè)置過低,盡管包括的低濃度不顯著影響結(jié)果(噪聲),但會使分析延長。
D、比較器水平越低越好。
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A、C和Si;
B、Mn和As;
C、P和S
A、150mm、300mm、700mm;
B、150mm、400mm、700mm;
C、150mm、300mm、500mm;
D、150mm、300mm、500mm;
A、5
B、8.5
C、24
A、碳池
B、硫池
C、同樣
A、48℃
B、340℃
C、400℃
最新試題
裝有乙炔氣體的鋼瓶必須放在避光的室內(nèi),不能放在膠皮的上面。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
在任何元素的熒光光譜中,共振熒光譜線是最靈敏的譜線。
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測量爐渣時(shí),可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
鋼鐵中碳分析,如果采用常規(guī)化學(xué)方法,需要隨同試料做空白試驗(yàn)。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。
原子熒光中屏蔽氣的作用是阻止因外圍空氣進(jìn)入管中心而造成的熒光猝滅效應(yīng)。
原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測元素的含量范圍。
原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭,但應(yīng)斷電,防止短路。