從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。

X射線熒光光譜儀長時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

直讀光譜儀使用一段時(shí)間后需要清理廢氣過濾器，廢氣過濾器需放置一段時(shí)間后才能打開，以防自燃。

直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電是不好的。

紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對二氧化硫的檢測。

直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。

原子熒光儀中檢測器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對檢測原子熒光信號(hào)的干擾。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

原子熒光法做檢出限測試時(shí)應(yīng)對空白樣品連續(xù)測定7次。