填空題X熒光分析法基體的影響可分兩大類,一類是()引起的,另一類是樣品粒度,表面結(jié)構(gòu)等造成的。
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直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。
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高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預(yù)處理。
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氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測(cè)的。
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紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
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空氣-Ar-ICP的缺點(diǎn)是()。
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ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
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ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是()。
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在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
判定原子吸收光譜測(cè)量元素準(zhǔn)確度,必須根據(jù)與分析元素結(jié)果相接近的標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)定值。
題型:判斷題
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
題型:多項(xiàng)選擇題