A.儀器分析條件波動(dòng)帶來的影響
B.環(huán)境溫度變化帶來的影響
C.試樣溶液基體不一致帶來的影響
D.試樣中元素含量不一致帶來的影響
E.光譜干擾
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A.標(biāo)準(zhǔn)曲線系列有顯著空白值
B.標(biāo)準(zhǔn)系列濃度過高
C.光譜背景未扣除或未扣除干凈
D.自吸現(xiàn)象
E.光譜干擾
A.石墨坩堝材質(zhì)為光譜純石墨
B.石墨坩堝無揮發(fā)分
C.石墨坩堝的物理化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定
D.坩堝發(fā)熱時(shí)溫度均勻且穩(wěn)定
E.石墨坩堝的電阻爐滿足高溫分析的電阻條件
A.X-射線熒光光譜儀
B.原子吸收光譜儀
C.火花原子發(fā)射光譜儀
D.紅外碳硫分析儀
E.電感耦合原子發(fā)射光譜儀
A.助熔劑導(dǎo)電
B.助熔劑中碳、硫含量低
C.助熔劑與樣品氧化熔融時(shí)，對坩堝無腐蝕
D.助熔劑導(dǎo)磁
E.助熔劑的粒度最好在0.42mm-0.48mm之間
A.吹掃時(shí)間
B.分析等待時(shí)間
C.分析時(shí)間
D.比較水平
E.助熔劑
最新試題
火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。
原子吸收光譜法測定被測元素，為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳，必須將樣品編號輸完整。
金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。
原子熒光中屏蔽氣的作用是阻止因外圍空氣進(jìn)入管中心而造成的熒光猝滅效應(yīng)。
直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。
裝有乙炔氣體的鋼瓶必須放在避光的室內(nèi)，不能放在膠皮的上面。
直讀光譜儀使用一段時(shí)間后需要清理廢氣過濾器，廢氣過濾器需放置一段時(shí)間后才能打開，以防自燃。
原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭，但應(yīng)斷電，防止短路。
原子吸收光度法，WM-2H型無油氣體壓縮機(jī)，表壓不在“0”為時(shí)，不得開機(jī)。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。