A.射線和著色 B.磁粉、著色和熒光 C.超聲波和射線 D.超聲波和磁粉
A.非破壞性檢驗和無損檢驗 B.射線探傷和磁粉探傷 C.超聲波探傷和射線探傷 D.破壞性檢驗和非破壞性檢驗
A.試驗壓力大于設(shè)計壓力 B.試驗壓力等于設(shè)計壓力 C.試驗壓力小于設(shè)計壓力 D.試驗壓力是設(shè)計壓力的2倍