A.采集和保存超聲A掃信號(hào)波形
B.發(fā)射超聲波和接收放大回波信號(hào)
C.分析處理數(shù)據(jù),顯示信號(hào)波形和掃查圖像
D.以上都是
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A.夾持探頭
B.沿預(yù)定的軌跡行走,進(jìn)行掃查
C.傳遞探頭的位置信息
D.以上都是
A.采用縱波
B.采用寬波束探頭
C.采用端點(diǎn)衍射信號(hào)
D.采用時(shí)差計(jì)算
A.提高缺陷縱向分辨力
B.提高缺陷橫向分辨力
C.提高信噪比
D.提高缺陷尺寸測(cè)量精度
A.±1mm
B.±3mm
C.±5mm
D.±7mm
A.缺陷位置的測(cè)量準(zhǔn)確性
B.缺陷長(zhǎng)度的測(cè)量準(zhǔn)確性
C.缺陷高度的測(cè)量準(zhǔn)確性
D.以上A和B
最新試題
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()