GB/Tl3262--2008是以批不合格品率為質(zhì)量指標(biāo)的計(jì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型一次抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

簡(jiǎn)單隨機(jī)抽樣的缺點(diǎn)是（）。

在進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)時(shí)，為使樣本抽取的隨機(jī)化而采取的常用的隨機(jī)抽樣的方法有（）。

特殊檢驗(yàn)水平主要用于（）。

在對(duì)進(jìn)行鑄件檢驗(yàn)時(shí)，根據(jù)樣本中包含的不合格的砂眼數(shù)判斷產(chǎn)品批是否被接受的判定方式屬于（）檢驗(yàn)。

用抽樣方案（30，0）對(duì)產(chǎn)品批進(jìn)行連續(xù)驗(yàn)收，當(dāng)批不合格品率為1%時(shí)，方案的接收概率為73．97%，則平均檢出質(zhì)量為（）。

某電子產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)后才能出廠，其合格率應(yīng)不小于95%?，F(xiàn)隨機(jī)抽取100個(gè)檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)有7個(gè)不合格品，問該批產(chǎn)品能否出廠（）。(取α＝0.05)

企業(yè)從供應(yīng)商處采購的一批元器件是在不同的月份生產(chǎn)的，驗(yàn)收該批產(chǎn)品時(shí)最適宜的抽樣方法（）。

（）是從一個(gè)可以分成不同子總體(或稱為層)的總體中，按規(guī)定的比例從不同層中隨機(jī)抽取樣品(個(gè)體)的方法。這種抽樣方法的優(yōu)點(diǎn)是樣本的代表性比較好，抽樣誤差比較?。蝗秉c(diǎn)是抽樣手續(xù)較簡(jiǎn)單隨機(jī)抽樣還要復(fù)雜些。

分層抽樣法的優(yōu)點(diǎn)是（）。