小樣本情況下,總體均值檢驗的統(tǒng)計量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
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A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗統(tǒng)計量的絕對值越大,則原假設(shè)越容易被拒絕
A.實測顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2
A.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設(shè)檢驗,稱為雙側(cè)假設(shè)檢驗
B.右側(cè)檢驗和左側(cè)檢驗統(tǒng)稱為單側(cè)檢驗
C.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗,稱為左側(cè)檢驗
D.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗,稱為右側(cè)檢驗
E.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設(shè)檢驗,稱為右側(cè)檢驗
A.原假設(shè)為真時被拒絕的概率
B.原假設(shè)為真時被接受的概率
C.原假設(shè)為偽時被拒絕的概率
D.原假設(shè)為偽時被接受的概率
A.z統(tǒng)計量
B.t統(tǒng)計量
C.s統(tǒng)計量
D.m統(tǒng)計量
E.Y統(tǒng)計量
最新試題
成本總指數(shù)為()。
單位產(chǎn)品成本變動對銷售額的影響程度和金額分別為()。
當抽取的樣本不同時,對同一總體回歸模型估計的結(jié)果也有所不同。()
在抽樣推斷中,抽樣誤差雖然不可避免但可以控制。()
統(tǒng)計的初級數(shù)據(jù)和次級數(shù)據(jù)均來源于統(tǒng)計調(diào)查。()
A有限總體可以進行全面調(diào)查,也可以調(diào)查其中的一部分單位;而對無限總體只能進行非全面調(diào)查,據(jù)以推斷總體。()
相關(guān)關(guān)系不是因果關(guān)系。()
抽樣調(diào)查和重點調(diào)查的主要區(qū)別是選取調(diào)查單位的方式不同。()
在多元線性回歸中t檢驗和F檢驗是等價的。()
全面調(diào)查和非全面調(diào)查是根據(jù)調(diào)查結(jié)果所得到的資料是否全面來劃分的。()