判斷題各個(gè)方向都能探測到的缺陷是平面狀缺陷。
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某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
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底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
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