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判斷題入射方向的選擇應使聲束中心線與缺陷面特別是與最大受力方向垂直的缺陷盡可能地接近垂直。

1.判斷題在使用對比試塊時，如果對比試塊與受檢件之間由于表面粗糙度不同或材質(zhì)不同而有聲傳輸特性差異時，應進行傳輸修正，修正可通過將來自對比試塊背面的回波幅度和來自同厚度受檢件背面的回波幅度進行比較而確定。修正值超過±6dB，該對比試塊不應采用。

2.判斷題探頭晶片尺寸大時，近場的覆蓋范圍也大，晶片小時，近場的覆蓋范圍也小。但在遠場處由于指向性的關(guān)系，大尺寸晶片的覆蓋范圍有可能小于尺寸晶片。

3.判斷題探頭的選擇主要是對晶片尺寸、角度、頻率等幾個方面選擇。

4.判斷題檢測條件有頻率、探頭、檢測部位及其粗糙度、檢測靈敏度。

5.判斷題軸類鍛件的超聲檢測應采用徑向檢驗、軸向檢驗、斜探頭周向檢驗、斜探頭軸向檢驗。