A.20000
B.24000
C.30000
D.40000
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A.Ι＝（1200～2000）/N（A）
B.Ι＝（12000～20000）/N（A）
C.Ι＝（10000～15000）/N
D.Ι＝（10000～12000）/N
A.安培數(shù)
B.安匝數(shù)
C.瓦特?cái)?shù)
D.歐姆數(shù)
A.熒光磁粉比非熒光磁粉對(duì)缺陷的檢出率高
B.要用與探傷面形成低對(duì)比度的磁粉
C.磁懸液就是磁粉探傷用的水液或油液
D.磁粉越細(xì)越好
A.檢測(cè)表面缺陷
B.檢測(cè)近表面缺陷
C.以上都對(duì)
D.以上都不對(duì)
A.效率高
B.效率低
C.能用于復(fù)合磁化
D.靈敏度高
最新試題
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來，最主要的是決定于（）
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）
探頭的分辨力（）
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）