A.首先分析找出過程未受控的原因，即找出影響過程的異常變異原因，使過程達(dá)到受控。
B.首先分析找出標(biāo)準(zhǔn)差過大的原因，然后減小變異。
C.首先分析找出平均值太低的原因，用最短時(shí)間及最小代價(jià)調(diào)整好均值。
D.以上步驟順序不能肯定，應(yīng)該根據(jù)實(shí)際情況判斷解決問題的途徑。
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A：u
B：np
C：c
D：p
A.上下控制限的范圍一定與上下公差限的范圍相同
B.上下控制限的范圍一定比上下公差限的范圍寬
C.上下控制限的范圍一定比上下公差限的范圍窄
D.上下控制限的范圍與上下公差限的范圍是相互獨(dú)立的
A.用塞規(guī)，每次檢測(cè)100件作為一個(gè)樣本，用np控制圖
B.用塞規(guī)，每次檢測(cè)500件作為一個(gè)樣本，用np控制圖
C.用游標(biāo)卡尺，每次連續(xù)檢測(cè)5根軸，用X.R控制圖
D.用游標(biāo)卡尺，每次連續(xù)檢測(cè)10根軸，用X.R控制圖
A.生產(chǎn)根本不穩(wěn)定。
B.平面度指標(biāo)不服從正態(tài)分布
C.每天內(nèi)的平面度波動(dòng)不大，但每天間的平面度波動(dòng)較大
D.這兩張圖什么問題也不能說明
A.CCD有旋轉(zhuǎn)性，而Box-Beknken設(shè)計(jì)沒有旋轉(zhuǎn)性
B.CCD有序貫性，而Box-Beknken設(shè)計(jì)沒有序貫性
C.CCD試驗(yàn)點(diǎn)比BOX-Beknken設(shè)計(jì)試驗(yàn)點(diǎn)少
D.以上各項(xiàng)都對(duì)
最新試題
全面生產(chǎn)維護(hù)TPM的目的是：（）。
假設(shè)檢驗(yàn)中，如果P＜α（a通常=0.05），則以下結(jié)論正確的是：（）
某個(gè)2水平的全因子DOE設(shè)計(jì)包括4個(gè)因子（其中之一乃離散屬性的）加3個(gè)中心點(diǎn)，6次仿行，請(qǐng)問如果你執(zhí)行Minitab里的Stat>DOE>Factorial>Create Factorial Design..你會(huì)總共得到多少個(gè)運(yùn)行次數(shù)？（）
在實(shí)施六西格瑪項(xiàng)目時(shí)，力場(chǎng)分析（Force Field Analysis）方法可用于（）.
下面關(guān)于六西格瑪管理概念的理解中最不適當(dāng)?shù)氖牵ǎ?/p>
在性佳牌手機(jī)生產(chǎn)車間，要檢測(cè)手機(jī)的抗脈沖電壓沖擊性能。由于是破壞性檢驗(yàn)，成本較高，每小時(shí)從生產(chǎn)線上抽一部來作檢測(cè)，共連續(xù)監(jiān)測(cè)4晝夜，得到了96個(gè)數(shù)據(jù)。六西格瑪團(tuán)隊(duì)中，王先生主張對(duì)這些數(shù)據(jù)畫“單值-移動(dòng)極差控制圖”，梁先生主張將3個(gè)數(shù)據(jù)當(dāng)作一組，對(duì)這32組數(shù)據(jù)作“Xbar-R控制圖”。這時(shí)你認(rèn)為應(yīng)使用的控制圖是（）.
下列關(guān)于假設(shè)檢驗(yàn)的說明，其中錯(cuò)誤的是：（）
在質(zhì)量功能展開QFD中，質(zhì)量屋的“屋頂”三角形表示（）
與兩水平的因子試驗(yàn)相比，以下哪一個(gè)是兩水平+中心點(diǎn)試驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)？（）
在同一個(gè)試驗(yàn)設(shè)定下，收集數(shù)個(gè)樣本（）稱為（），在同樣的實(shí)驗(yàn)條件下重復(fù)整個(gè)實(shí)驗(yàn)稱為（）。