A.聲壓
B.聲阻抗
C.聲強(qiáng)
D.周期
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A.聲強(qiáng)和該點(diǎn)的波長(zhǎng)
B.聲強(qiáng)和該點(diǎn)的頻率
C.聲壓和該點(diǎn)的振動(dòng)速度
D.以上都不對(duì)
A、聲壓透射率
B、聲強(qiáng)透射率
C、聲強(qiáng)反射率
D、聲強(qiáng)級(jí)
A.波的干涉
B.波的繞射或衍射
C.波的疊加
D.波的傳播
A.方波
B.電磁波
C.機(jī)械波
D.以上都不對(duì)
A、波陣面
B、壓縮波
C、剪切波
D、應(yīng)力波
最新試題
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。
常用的顯像方法包括()。
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說(shuō)法正確的有()。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
按照受檢材料的相容性,可將滲透劑分為()滲透劑。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí),會(huì)出現(xiàn)以下()等現(xiàn)象。
滲透檢測(cè)通常在()前進(jìn)行,表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時(shí)需要考慮的問(wèn)題有()。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的(),這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
軟X 射線管選用鉬作陽(yáng)極靶,鉬靶和鎢靶比較,()。