A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
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A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
A.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密
B.晶粒結(jié)構(gòu)粗大
C.流線均勻
D.缺陷任意取向
A.3倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
A.散射和吸收
B.波束擴(kuò)散
C.介質(zhì)密度過大
D.缺陷類別
最新試題
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號(hào)波,需要仔細(xì)判別。
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()