利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。

單探頭法容易檢出（）。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。