二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）

若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）