使用變型波檢測的一個優(yōu)點(diǎn)是（）

一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

調(diào)節(jié)掃描速度時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

不同材料的相對吸收系數(shù)（）

底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。

通常所謂20KV的X射線是指（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）