非熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，可見(jiàn)光照度不小于1000lx，并應(yīng)避免（）。

人的眼睛在強(qiáng)光下，（）。

Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。

鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí)，（）。

工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行（）。

無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。

對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有（）。

超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是（）。

用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。

單晶體金屬特點(diǎn)有（）。