單晶體金屬特點(diǎn)有（）。

超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是（）。

非熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，可見(jiàn)光照度不小于1000lx，并應(yīng)避免（）。

用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。

在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié)，儀器長(zhǎng)期不用，應(yīng)做到（），以驅(qū)除潮氣，防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。

大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。

表面波檢測(cè)中，利用表面波檢測(cè)（）效果好。

滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有（）。

化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是（）。

無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。